日本凯特Kett LE-373膜厚计
双涂层测厚仪中级机型提供电磁和涡流探头测量范围 电磁式： - 25 µm，涡流式： - 12 µm记录39个数据集，统计计算功能规格测量方法应用测量范围测量精度解析度符合标准数据存储器应用内存探测显示格式外部输出能量源能量消耗电池寿命工作环境职能尺寸和重量配件选项电磁：-25µm 或 99.mils 涡流：-12µm 或 47.mils
Kett LE-373膜厚计电磁感应：JIS K56-1-7、JIS H851、JIS H41 / ISO 288、ISO 264、ISO 146、ISO 2178、ISO 1984 / BS 39-C5 / ASTM B 499、ASTM D 791-5涡流：JIS K56 -1-7、JIS H868-2、JIS H851 / ISO 288、ISO 236、ISO 264、ISO 1984 / BS 39-C5 / ASTM D 791-5大约。39, 点5种电磁校准曲线，5种涡流校准曲线。单点恒压型探头（LEP-J、LHP-J）数字（背光 LCD，最小显示单位 .1 mm）PC 或打印机输出 (RS-232C)4x 1.5V 电池（“AA"尺寸碱性电池）8 mW（背光关闭时）1 小时（持续运行，背光关闭）-4°C16种内部功能75(W) x 145(D) x 31(H) 毫米，净重 .34 公斤校准箔、黑色金属基板、铝基板、手提箱、4 x 1.5V 电池（“AA"尺寸碱性电池）校准膜（除标准附件之外的厚度），测量台 LW-99
日本KETT凯特双型涂层测厚仪 LZ-373技术参数
